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簡要描述：美國Trio-Tech 半導體高加速壓力測試系統(tǒng)，高加速應力測試（HAST）結合了高溫、高濕度、高壓和時間，以測量元件的可靠性，無論是否具有電偏置。HAST測試以受控的方式加速了更傳統(tǒng)測試的壓力。它本質上是一種腐蝕失效測試。腐蝕型故障加速，在較短的時間內發(fā)現(xiàn)包裝密封，材料和接頭等缺陷。偏置高加速壓力測試（BHAST）利用與HAST測試相同的變量（高壓，高溫和時間），但增加了電壓偏差。BHAST測試
產(chǎn)品型號：HAST 1000廠商性質：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-09-24訪 問 量：2204產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 應用領域 | 電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
|---|---|---|---|
| 測試箱規(guī)格 | 18*24in | 外尺寸 | 77*108*190cm |
| 可用空間 | 50*60*48cm | 重量 | 1586kg |
| 電源要求 | 220V 50Hz | 溫濕度 | 105-133@100RH |
| 最大壓力 | 56SI | 均勻度 | 1.5度/5% |
| 功耗 | 2500W@110度 85%RH | 最大裝載 | 50-60kg |
高加速應力測試（HAST）結合了高溫、高濕度、高壓和時間，以測量元件的可靠性，無論是否具有電偏置。HAST測試以受控的方式加速了更傳統(tǒng)測試的壓力。它本質上是一種腐蝕失效測試。腐蝕型故障加速，在較短的時間內發(fā)現(xiàn)包裝密封，材料和接頭等缺陷。
偏置高加速壓力測試（BHAST）利用與HAST測試相同的變量（高壓，高溫和時間），但增加了電壓偏差。BHAST測試的目標是加速設備內的腐蝕，從而加快測試周期。
HAST加速壓力測試與THB測試類似，因為故障是由相同的機制引起的。由此產(chǎn)生的故障以成比例的速率發(fā)生，并且可以在激活引擎之間找到相關性。電氣設備/組件更可靠，因此，數(shù)千小時的THB測試無法在短時間內發(fā)現(xiàn)HAST腐蝕故障測試的弱點。
型的HAST測試條件包括110或130°C的溫度，85%RH的濕度和96小時的測試運行時間。一旦高度加速的壓力測試完成，測試的樣品將用防潮袋返回給客戶，并帶有測試時間標簽。HAST測試通常遵循JEDEC規(guī)范JESD22 A110，“高加速溫度和濕度壓力測試（HAST）"。
JESD22-A118 （無偏）
JESD22-A110 （偏置）
IEC 60068-2-66
l HAST已被開發(fā)用于取代溫度 - 濕度偏差（THB）測試
l HAST使用110至130 ?C的測試溫度，與THB測試相比，將測試時間縮短至96小時
l 干燥）高溫 130C， 相對濕度 85%， 壓力 33.3 psia
l （濕）高溫110C，相對濕度35%，壓力17.7標準
l 電子學
l 半導體
l 太陽能
l 藥品
l 空間應用
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